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基于SVM的模拟测试生成的改进算法

Improved analogue test generation algorithm based on SVM

作     者:龙婷 王厚军 龙兵 LONG Ting;WANG Hou-jun;LONG Bing

作者机构:电子科技大学自动化工程学院四川成都610054 

出 版 物:《系统工程与电子技术》 (Systems Engineering and Electronics)

年 卷 期:2011年第33卷第6期

页      面:1425-1428页

核心收录:

学科分类:08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)] 

基  金:国家自然科学基金(60934002 61071029) 总装预研基金(9140A16060409DZ02) 电子科大人才计划(Y02018023601059)资助课题 

主  题:模拟系统 测试生成 分类 支持向量机 误分率 

摘      要:在一些测试生成算法中,通过数/模和模/数转换器将模拟系统转换为离散数字系统,使得测试生成和响应分析在数字信号领域进行。提出了一种基于支持向量机(support vector machine,SVM)的模拟测试生成算法,通过SVM解决采样空间的线性分类问题,生成的测试序列可直接作为激励信号作用于被测系统,通过输出响应即可判断是否故障。为了减少计算代价,采用一种非等间距方法压缩脉冲响应采样向量,在降低采样空间维度的同时保证了测试生成的有效性。

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