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对称加密算法AES和DES的差分错误分析

Differential Fault Analysis on AES and DES

作     者:孙维东 俞军 沈磊 

作者机构:复旦大学微电子研究院专用集成电路与系统国家重点实验室上海200433 

出 版 物:《复旦学报(自然科学版)》 (Journal of Fudan University:Natural Science)

年 卷 期:2013年第52卷第3期

页      面:297-302页

核心收录:

学科分类:0839[工学-网络空间安全] 08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)] 

主  题:高级加密标准 数据加密标准 差分错误分析 智能卡 

摘      要:分析对称加密算法AES和DES对差分错误分析的安全性.描述了一种针对AES加密算法的差分错误分析方法,通过软件模拟成功恢复根密钥.实验结果表明,只需20次左右的错误注入就能实现AES差分错误分析.提出一种新的DES差分错误分析方法,该方法与AES差分错误分析在原理上类似,软件模拟结果表明破解DES需要的错误注入次数更多.因此无任何防护手段的AES和DES加密算法很容易受到差分错误分析的攻击.最后提出引入错误侦测机制能有效抵御此类攻击.

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