怎样确保检验成功—逻辑分析仪探头基础介绍

作     者：Brock J.LaMeres Kenneth Johnson 

作者机构：安捷伦科技公司 

出 版 物：《今日电子》 (Electronic Products)

年 卷 期：2004年第6期

页      面：87-90页

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 

主　　题：逻辑分析仪 探头形状 系统检验 数字系统 探头负荷 

摘      要：几十年来,工程师一直依赖逻辑分析仪作为系统检验的主要工具。随着数字系统的速度和复杂性的提高,要求更加完善的分析工具。广大逻辑分析仪厂商一直努力跟上和满足速度和功能方面的行业需求,从分析仪到目标系统的物理连接发挥的重要作用正变得日益明显。在许多情况下,这一物理连接(如探头)可能会成为分析仪性能中的瓶颈。如果逻辑分析仪收到的信号劣化,那么分析仪内部的触发和分析工具再强大也是没用的。本文将介绍实现逻辑分析仪探头连接要考虑的基本因素。逻辑分析仪探测基础探头形状在使用逻辑分析仪时,考虑的第一个因素是需要什么样的探头。探头连接分两类:“设计过程中探测和“事后探测。设计过程中逻辑分析仪探测是指在前期设计中包括探头测试点,如基于连接器的探头或无连接器探头。不管是哪种情况,设计人员都在PCB中放上相应的连接盘,把感兴趣的信号引到连接盘上。逻辑分析仪探头通过相应的互连,与这些触点连接起来。在基于连接器的探头中,探头包含了插头和对应的植入被测系统的插座连接器。在无连接器探头中,探头带有弹性互连装置,将接触PCB上的连接盘。第二类探头是事后探测。这是指在设计中没有包括测试能力的系统,而是使用单独的、拥有各种互连配件(焊接、抓斗等...