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电子元器件检验过程控制及优化措施研究

Research on Process Control and Optimization Measures for Electronic Component Inspection

作     者:年探探 于耀 王国宁 潘廷龙 NIAN Tantan;YU Yao;WANG Guoning;PAN Tinglong

作者机构:华东光电集成器件研究所安徽蚌埠233000 

出 版 物:《品牌与标准化》 (Brand & Standardization)

年 卷 期:2024年第5期

页      面:185-188页

学科分类:0401[教育学-教育学] 04[教育学] 

主  题:成品检验 抽样 试验样品 过程控制 

摘      要:抽样检验是成品检验过程中一种常用的检验方法,以少数样品的检验结果来评价整批元器件的质量,因此提交检验的样本、样品的抽取以及试验过程的控制,在整个检验过程中相当重要。本文结合实际工作中检验情况,简要阐述如何做好检验过程的控制。

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