相息图错位对级联空间光调制器产生高阶厄米高斯模的影响分析

作     者：马龙 燕曼君 蔡春晓 

作者机构：重庆三峡学院 中国空间技术研究院西安分院空间微波通信全国重点实验室 

出 版 物：《激光杂志》 (Laser Journal)

年 卷 期：2024年

学科分类：080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 

基　　金：国家自然科学基金(No.62005211) 重庆市自然科学基金(No.CSTB2022NSCQ-BHX0700) 重庆市教委科学技术研究项目(No.KJZD-M202201204,KJQN202201217) 重庆万州区科学技术局科技创新智慧农业项目(No.2022-17) 重庆三峡学院引进人才科研启动项目(No.0903321) 

主　　题：高阶厄米高斯模 空间光调制器 相位恢复 相息图 模式纯度 

摘      要：高阶厄米高斯模由于其复杂的空间分布，在精密测量、光通信、激光加工等领域具有广泛应用。尽管利用级联空间光调制器可以高效产生高阶厄米高斯模，但实验系统对光场与相息图的对准要求极高，这成为限制其高质量生成的关键因素。本文深入分析了第二台空间光调制器平面上光场与其加载的相息图之间错位对高阶厄米高斯模产生质量的影响。结果表明，第二台空间光调制器平面上光场与其加载的相息图在横向方向需实现微米级对准，纵向方向则需毫米级对准。基于此，本文提出了一种实验操作简单的方法，用以实现第二台空间光调制器平面上光场与其加载的相息图之间的精确对准，为高效高质量产生高阶厄米高斯模提供了重要参考，对推动光学成像、精密测量及量子信息处理等领域的发展具有重要意义。