X-射线荧光光谱测定氧化铍中杂质元素
X-Ray Fluorescence Spectrometric Determination of Impurity Elements in Beryllium Oxide作者机构：昆明高新技术开发区!昆明650000 电子科技大学材料分析中心!成都610054
出 版 物：《分析化学》 (Chinese Journal of Analytical Chemistry)
年 卷 期：2000年第28卷第6期
页 面：756-758页
核心收录：
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学]
基 金：国防科工委“九·五”共性研究项目
摘 要：拟定了BeO中12种痕量杂质元素的X-射线荧光光谱测定方法．采用光谱纯试剂人工合成校准标样，粉末压块法制备分析样片。考虑到BeO对X射线的透明性，在样片与样品盒支架之间垫置钼片消除试样盒发射线的干扰并产生附加激发以提高灵敏度。本文分析结果与等离子发射光谱和原子吸收光谱对照相吻合。
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