电子装备测试性分析关键技术研究
Critical Technologies for Testability Analysis of Electronic Equipment作者机构：军械工程学院石家庄050003 桂林空军学院广西桂林541001
出 版 物：《电光与控制》 (Electronics Optics & Control)
年 卷 期：2010年第17卷第11期
页 面：49-51,64页
学科分类：08[工学] 0825[工学-航空宇航科学与技术]
基 金：军械工程学院科学研究基金项目(YJJXM08018)
主 题：故障测试 故障隔离 电子设备 测试性分析 测试性建模
摘 要：针对目前国内测试性分析的理论较杂,缺少综合、适用的分析系统的问题,研究了利用功能—行为—结构(FBS)模型描述测试性的技术,提出了基于故障模式、影响和危害性分析法,利用FBS模型进行测试性分析,构建了测试性层次型预计体系。
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