一种单片集成光电检测电路前置放大器的噪声性能分析与优化
作者机构：重庆电子工程职业学院电子信息系
出 版 物：《硅谷》 (Silicon Valley)
年 卷 期：2011年第16期
页 面：185-185页
学科分类：080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：在光电检测电路中虽然前置放大器的增益可以做到足够大,但是在弱信号被放大的同时,噪声也被放大,而且放大器本身还要引入新的噪声。为使探测系统保持一定的输出信噪比,合理设计前置放大器噪声性能是十分重要的。对单片集成光电检测电路中的各种噪声来源与形成机制进行分析,结合计算机仿真探索优化前置放大器噪声性能的设计方法。
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