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基于高速单片机的X射线测厚仪数据采集系统设计

作     者:陈文明 叶云洋 

作者机构:湖南电气职业技术学院湖南湘潭411101 

出 版 物:《科技创新与应用》 (Technology Innovation and Application)

年 卷 期:2015年第5卷第30期

页      面:3-4页

学科分类:0810[工学-信息与通信工程] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 0835[工学-软件工程] 081002[工学-信号与信息处理] 

主  题:高速单片机 X射线测厚仪 数据采集系统 

摘      要:工业用测厚仪有接触式和非接触式两种,通常在线测量使用非接触式的,而X光测厚仪是目前非接触式中使用最多的。一般而言,工业上多采用以PLC和工业计算机为核心实现测厚数据的采集和处理,但该系统体积大、价格昂贵,不适合中、小型企业客户的需求。为此,提出基于高速单片机的X射线测厚仪数据采集系统,在保证系统工作效率和测量精的前提下,使系统的结构简化以及设备的成本降低了。

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