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纳米多孔氧化硅的制备及荧光光谱研究

Preparation and photoluminescence of nano-porous oxidized silicon

作     者:车永莉 曹小龙 李清山 CHE Yong-li;CAO Xiao-long;LI Qing-shan

作者机构:曲阜师范大学信息技术与传播学院日照276826 曲阜师范大学计算机科学学院日照276826 曲阜师范大学物理工程学院曲阜273165 

出 版 物:《激光技术》 (Laser Technology)

年 卷 期:2008年第32卷第6期

页      面:605-607页

核心收录:

学科分类:07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0702[理学-物理学] 

主  题:光电子学 多孔氧化硅 阳极氧化 荧光光谱 

摘      要:为了制作性能良好的光电子集成、光波导等器件,研究纳米多孔氧化硅膜的制备和表征具有重要意义。采用高温氧化多孔硅的方法制备了纳米多孔氧化硅,进行了两种样品的荧光光谱和傅里叶变换红外吸收谱对比检测。相比于多孔硅,多孔氧化硅的发光峰值向短波方向蓝移并且发光强度明显降低。多孔硅表面基本是由氢饱和的,而经氧化后的多孔氧化硅表面的Si—H键大部分被Si—O键所代替。结果表明,量子限制效应是样品的荧光光谱蓝移的原因,而发光强度的降低则归因于样品表面辐射复合中心的减少和内部纳米硅柱(硅晶粒)尺寸的减小。

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