厚试样层析图像重构的研究
Study of Restoration of Sectional Images in a Thick Sample作者机构:华中理工大学光电子工程系
出 版 物:《中国激光》 (Chinese Journal of Lasers)
年 卷 期:1997年第24卷第2期
页 面:157-162页
核心收录:
学科分类:0808[工学-电气工程] 080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
基 金:国家自然科学基金
摘 要:从激光在厚试样中入射和受激发荧光在试样中出射时光能的吸收与散射损耗的基本原理获得了光学系统接收荧光的归一化光强表达式。给出了迭代法、FFT方法的数学模型,进行了计算模拟,并分析比较了FFT方法和迭代法的计算量和计算精度。