基于双线阵CCD的EPC/CPC数字测量系统

作     者：何平安 彭晓钧 王卫平 项亚平 张明建 吴敏渊 HE Ping-an;PENG Xiao-jun;WANG Wei-ping;XIANG Ya-ping;ZHANG Ming-jian;WU Min-yuan

作者机构：武汉大学电子信息学院光电工程系湖北武汉430079 武钢工程技术集团计控公司湖北武汉430080 

出 版 物：《光电子．激光》 (Journal of Optoelectronics·Laser)

年 卷 期：2006年第17卷第5期

页      面：608-611页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程] 

主　　题：跑偏/对中(EPC/CPC) 纠偏 平行光投射系统 Chip LED CCD 

摘      要：针对目前带钢跑偏对中(EPC/CPC)的测量问题,提出了一种精度高、稳定性好的高速带钢EPC/CPC检测方案。该方案采用由Chip LED阵列和柱面透镜构成的平行光投射系统来照明,并利用高性能的线阵CCD来提取带钢边缘,同时开发了基于89C51单片机和CPLD器件的测量电路。详细介绍了该检测方案和EPC/CPC测量系统的组成。实验结果表明:该测量系统响应速度快、稳定性好,可使带钢卷取的齐整度控制在±0.1 mm范围内。