光线追迹法在双折射滤光器误差分析中的应用

作     者：玄伟佳 王东光 邓元勇 张志勇 孙英姿 XUAN Wei-jia;WANG Dong-guang;DENG Yuan-yong;ZHANG Zhi-yong;SUN Ying-zi

作者机构：中国科学院国家天文台怀柔太阳观测站 

出 版 物：《光学精密工程》 (Optics and Precision Engineering)

年 卷 期：2008年第16卷第5期

页      面：771-777页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 070207[理学-光学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 07[理学] 08[工学] 070401[理学-天体物理] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0704[理学-天文学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(No.10778723 No.10473016) 

主　　题：太阳观测 偏振光学 透过带形状 光线追迹法 双折射滤光器 

摘      要：从单轴晶体的双折射性质出发,应用光线追迹方法,研究了滤光器系统中光的传播规律。将光线的传播方向、相位信息和振动状态用入射角、入射光方位角和晶体参量表示出来,结合偏振光的干涉原理,辅以计算机编程,分析了多种误差源对透过带形状的影响。通过与Evans离轴效应公式的对比,得到0.7%的最大相对误差,从而验证了本文方法的正确性,为滤光器的研制提供了可靠依据。