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n型半导体量子阱红外探测器的正入射吸收机制

THE MECHANISM OF NORMAL-INCIDENCE ABSORPTION FOR n-TYPE SEMICONDUCTOR QUANTUM WELL INFRARED DETECTOR

作     者:徐文兰 沈学础 傅英 

作者机构:中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室微结构科学技术高等研究中心 

出 版 物:《红外与毫米波学报》 (Journal of Infrared and Millimeter Waves)

年 卷 期:1995年第14卷第4期

页      面:299-304页

核心收录:

学科分类:080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程] 

基  金:国家自然科学资金 

主  题:量子阱 红外探测器 正入射 n型半导体 

摘      要:基于有效质量理论,从导带子带间光跃迁矩阵元的表达式出发,推出n型半导体量子阱红外探测器的正入射吸收条件.用一些简单的数学手段,把正入射的吸收系数表达力量子阱生长方向的解析函数,进而讨论正入射吸收的优化、极限及与平行吸收的比较.在考虑了椭球等能面的简并度和占有度后,在掺杂浓度为10(18)cm(-3)和探测波长10μm时,对4种具体的量子阶材料进行了计算.推荐了为获取最大正入射吸收的优化量子阱生长方向,为正入射量子阱探测器的设计提供依据.

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