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VLSI可测性设计研究

Summary of VLSI Design-for-Test

作     者:杜俊 赵元富 

作者机构:航天时代电子公司研究院微电子技术研究部北京100076 

出 版 物:《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期:2004年第21卷第10期

页      面:189-192页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

主  题:可测性设计 自动测试生成 扫描设计 边界扫描技术 嵌入式自测试 测试外壳 模拟测试总线 

摘      要:从可测性设计与VLSI测试、VLSI设计之间的关系出发,将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起。文中简要地介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类,简明地评述了可测性设计的现状和发展趋势,并且探讨了可测性设计的实现方法。

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