VLSI可测性设计研究
Summary of VLSI Design-for-Test作者机构：航天时代电子公司研究院微电子技术研究部北京100076
出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)
年 卷 期：2004年第21卷第10期
页 面：189-192页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
主 题：可测性设计 自动测试生成 扫描设计 边界扫描技术 嵌入式自测试 测试外壳 模拟测试总线
摘 要：从可测性设计与VLSI测试、VLSI设计之间的关系出发,将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起。文中简要地介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类,简明地评述了可测性设计的现状和发展趋势,并且探讨了可测性设计的实现方法。
维普期刊数据库
同方期刊数据库