偏振调制扫描光学显微镜方法

作     者：张洋 张志豪 王宇剑 薛晓兰 陈令修 石礼伟 Zhang Yang;Zhang Zhi-Hao;Wang Yu-Jian;Xue Xiao-Lan;Chen Ling-Xiu;Shi Li-Wei

作者机构：中国矿业大学材料与物理学院徐州221116 

出 版 物：《物理学报》 (Acta Physica Sinica)

年 卷 期：2024年第73卷第15期

页      面：187-195页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金专项基金(批准号:62341406) 江苏省基础研究计划(自然科学基金)-青年基金(批准号:BK20221113) 徐州市科技项目-基础研究计划(批准号:KC23004)资助的课题 

主　　题：反射各向异性光谱 显微成像 光学各向异性 二维材料 

摘      要：基于反射差分谱原理搭建了适用于二维材料和微纳器件的偏振调制扫描光学显微镜系统,可以实现对于材料或者器件的微米级区域进行反射差分显微成像的研究.通过研究两种典型的二维层状材料MoS_(2)和ReSe_(2)的反射差分显微成像,发现相比于传统的反射显微镜,我们搭建的偏振调制扫描光学显微镜对于二维材料的层数特征更敏感,且可以用来表征二维材料的平面光学各向异性.相关研究有助于更进一步理解层状二维材料的层数特征和各向异性性质.