忆感等效电路的特性分析与实验验证
Characteristic Analysis and Experimental Verification for Meminductor Equivalent Circuit作者机构:中国电信江苏公司云计算中心南京210017 常州大学信息科学与工程学院江苏常州213164
出 版 物:《电子科技大学学报》 (Journal of University of Electronic Science and Technology of China)
年 卷 期:2014年第43卷第6期
页 面:845-849页
核心收录:
学科分类:080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学]
基 金:国家自然科学基金(51277017) 江苏省自然科学基金(BK2012583)
摘 要:忆感器是从忆阻器概念推演出来的一个新的具有记忆功能的非线性电路元件。基于忆感近似等效电路模型,采用一个有源磁控忆阻器实现等效电路中的忆阻器,建立了忆感近似等效电路的状态方程组;借助MATLAB数学工具软件,进行了等效忆感器特性的数值仿真分析。结果表明,等效忆感器的韦安关系呈现典型的紧磁滞回线特性,且依赖于外加电压激励频率。通过有源磁控忆阻器的等效电路进行了忆感近似等效电路的实验验证,实验测量结果和数值仿真结果基本一致,说明了忆感近似等效电路模型的正确性。