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X射线荧光分析仪检测数据超差原因分析及解决措施

Analysis of the Causes and Solutions for the Data Deviation Detected by X-ray Fluorescence Analyzer

作     者:贾坤鹏 时耀辉 于洪存 杜会平 赵兴娟 JIA Kunpeng;SHI Yaohui;YU Hongcun;DU Huiping;ZHAO Xingjuan

作者机构:赞皇金隅水泥有限公司河北石家庄051230 

出 版 物:《水泥技术》 (Cement Technology)

年 卷 期:2024年第4期

页      面:84-88页

学科分类:080706[工学-化工过程机械] 08[工学] 0807[工学-动力工程及工程热物理] 

主  题:荧光分析仪 检测分析 样品制备 解决措施 

摘      要:某水泥公司采用X射线荧光分析仪进行生料样品SiO_(2)、CaO等成分检测时,出现检测数据频繁超出误差的现象。分析了可能造成X射线荧光分析仪检测数据产生误差的影响因素,试验排除了操作误差及仪器误差的影响,发现检测数据超差的主要原因是试样制备方法重复性较差,进一步排查影响试样制备的因素,确定了颗粒效应对检测数据超差的影响。通过采取将样品研磨至完全通过0.08mm方孔筛的粉磨试验方案,最终解决了X射线荧光分析仪超差的问题,提高了熟料产品质量。

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