显微织构取向分布函数的电子背散射衍射测定
Electron backscatter diffraction determination of orientation distribution function of microtexture作者机构：武汉大学物理系
出 版 物：《电子显微学报》 (Journal of Chinese Electron Microscopy Society)
年 卷 期：1999年第18卷第4期
页 面：462-467页
核心收录：
学科分类：07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学]
摘 要：用电子背散射衍射（ Ｅ Ｂ Ｓ Ｄ）技术可以分别对试样中不同类型的晶粒，测定其显微织构。当 Ｅ Ｂ Ｓ Ｄ 附件只能给出显微织构的极图、反极图和每一晶粒的欧拉角时，本文介绍了如何编写计算机程序由欧拉角数据获取取向分布函数（ Ｏ Ｄ Ｆ）。当试样在扫描电镜中的放置方位不同于仪器所规定的标准放置方位时，本文介绍了如何由仪器给出的欧拉角计算出对应于非标准放置的试样的欧拉角，并进而获取 Ｏ Ｄ Ｆ的方法。
维普期刊数据库
同方期刊数据库