咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >用磁偏转SIMS实现超高分辨力的分析 收藏

用磁偏转SIMS实现超高分辨力的分析

作     者:Jiang,ZX 

出 版 物:《真空科学与技术》 (Vacuum Science and Technology)

年 卷 期:1998年第18卷第A12期

页      面:83-86页

学科分类:081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 

主  题:SIMS 超高分辨力 磁偏转 

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分