扫描近场光学显微术的研究进展(特邀)

作     者：陈宇昕 李志远 Chen Yuxin;Li Zhiyuan

作者机构：华南理工大学物理与光电学院广东广州510641 

出 版 物：《光学学报》 (Acta Optica Sinica)

年 卷 期：2024年第44卷第10期

页      面：233-246页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金(11974119) 广东重点研发项目(2020B010190001) 

主　　题：扫描近场光学显微镜 高时空分辨 光谱分析 光与物质相互作用 

摘      要：扫描近场光学显微镜(SNOM)因其具有可达10 nm量级的超高光学分辨率与光谱分析能力,为物理、化学、材料科学和生命科学等领域的若干重要前沿基础科学问题提供了强有力的高时空分辨的光学表征工具。本文聚焦高分辨SNOM技术近期的研究进展,首先回顾了SNOM成像技术的基本原理和SNOM探针的发展历史。接着重点介绍了将SNOM成像技术应用于研究微纳尺度上光与原子、分子、二维材料、生物大分子、非线性结构等物质相互作用的时空细节,并阐述了所揭示的微纳尺度上光和物质相互作用的深层次物理、化学和生物学一系列新现象和新规律。最后针对SNOM技术未来的发展趋势,以及可重点关注及进一步研究的关键性科学问题进行了分析和展望。