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微波开关自动测试系统设计

Design of Automatic Test System for Microwave Switch

作     者:祝军生 胡顺平 李明军 葛重才 刘延迪 杨旸 杜微 张璐 ZHU Junsheng;HU Shunping;LI Mingjun;GE Chongcai;LIU Yandi;YANG Yang;DU Wei;ZHANG Lu

作者机构:南京航空航天大学经济与管理学院南京210016 中国航天科工集团八五一一研究所南京210007 西安空间无线电技术研究所西安710100 北京航天测控技术有限公司北京100041 陕西航天时代导航设备有限公司陕西宝鸡721013 

出 版 物:《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期:2024年第32卷第5期

页      面:31-37,45页

学科分类:0711[理学-系统科学] 07[理学] 08[工学] 081104[工学-模式识别与智能系统] 0811[工学-控制科学与工程] 071102[理学-系统分析与集成] 081103[工学-系统工程] 

主  题:微波开关 遥控遥测设备 射频开关矩阵 自动测试 数据管理 

摘      要:针对当前微波开关指标测试流程复杂、测试方法自动化程度低问题,提出了一套集指标测试、数据采集和数据管理功能于一体的自动化测试系统;该系统基于微波开关生产及试验环节的实际使用需求,通过软件平台实现对通用测量仪器及遥控遥测设备、射频开关矩阵等设备的自动化控制,单次可满足最多16个微波开关的同步测试,可实现同轴型和波导型两类开关的S参数、切换时间、门限电压、接触电阻、跑荷等总计18种指标参数的测试和试验数据管理,达到了测试效率和试验质量的双提升。

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