直流接触器触头倒角及中心磁感应强度对电寿命的影响
Effect of Chamfer and Center Magnetic Induction on Electrical Life of DC Contactors作者机构：贵州振华群英电器有限公司贵州贵阳550018
出 版 物：《电器与能效管理技术》 (Electrical & Energy Management Technology)
年 卷 期：2024年第4期
页 面：53-56页
学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学]
摘 要：密封直流接触器开断负载时,灭弧室内触头喷溅不可避免。通过分组试验的方法来验证触头倒角及中心磁感应强度对电寿命的影响。结果表明,增大触头中心磁感应强度,总开断负载的次数会增加,喷溅也会增多,从而导致介质耐电压和绝缘电阻降低;增大触头倒角,喷溅会减少,介质耐电压和绝缘电阻会提高,但总开断负载的次数会减少。
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