电子式漏电断路器分段寿命预测方法研究
Segment life prediction of electronic leakage circuit breaker作者机构：苏州科技大学电子与信息工程学院江苏苏州215009
出 版 物：《电子元件与材料》 (Electronic Components And Materials)
年 卷 期：2024年第43卷第4期
页 面：497-504页
学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学]
摘 要：传统寿命预测使用Arrhenius方程计算的平均活化能来反映断路器老化速率,并据此计算断路器的使用寿命。这种做法忽视了各电子部件的老化程度在老化不同时期中的差异,从而无法准确地反映断路器的整体老化速率。对此,提出了一种基于Arrhenius方程的分段式寿命预测方法,该方法使用剩余动作电流作为老化特征参数,并将整个老化过程分段,通过各阶段在不同温度应力条件下的老化时间,计算各阶段平均表观活化能,从而计算阶段寿命,最后将各阶段的寿命相累加,得到断路器的寿命预测结果。该方法更加符合真实情况下的漏电断路器,预测结果更加接近实际寿命。
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