局域芯片分布特征辨识及自适应变步长扫描与匹配

作     者：吴涛 周意 黄智雄 叶玮琳 吴福培 李斌 WU Tao;ZHOU Yi;HUANG Zhixiong;YE Weilin;WU Fupei;LI Bin

作者机构：汕头大学智能制造技术教育部重点实验室广东汕头515063 华中科技大学机械科学与工程学院湖北武汉430074 

出 版 物：《计算机集成制造系统》 (Computer Integrated Manufacturing Systems)

年 卷 期：2024年第30卷第4期

页      面：1273-1285页

核心收录：

学科分类：08[工学] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0811[工学-控制科学与工程] 081102[工学-检测技术与自动化装置] 

基　　金：广东省自然科学基金资助项目(2018A030307049,2021A1515010661) 广东省科技计划资助项目(STKJ2021027) 

主　　题：晶圆片映射视图 逻辑归一化 主动遍历 位置关系 索引匹配 

摘      要：为解决LED芯片检测与分选中的漏扫、匹配错误等关键问题,提出自适应变步长扫描方法。该方法对当前局域分布特性进行分析,利用晶圆片局部形变的连续性与保持性对邻近区域芯片分布进行预测,实施步长调整。在检测端,提出基于8邻域位置模型的区域芯片分布特征表征与描述方法,确立自适应步长调整策略,建立物理地址映射视图以及归一化逻辑视图。在分选端,利用已知物理地址映射图和归一化逻辑视图,对扫描区域、步长与路径进行规划,在遍历芯片的同时,实现芯片匹配。实测表明,相比冗余方法,该方法能够以低于4%的冗余率,实现漏扫率低于0.5%,提升扫描效率近23%。由于只针对有意义的芯片进行查找,可实现接近100%的匹配率,显著改善了算法效率和抗干扰能力。