中红外腔衰荡光谱技术的研究进展及应用

作     者：孙乐 貊泽强 胡誉元 唐吉龙 魏志鹏 SUN Le;MO Ze-qiang;HU Yu-yuan;TANG Ji-long;WEI Zhi-peng

作者机构：长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室吉林长春130022 长春理工大学中山研究院广东中山528437 中国科学院空天信息创新研究院北京100094 中国科学院计算光学成像技术重点实验室北京100094 

出 版 物：《激光与红外》 (Laser & Infrared)

年 卷 期：2024年第54卷第3期

页      面：323-335页

学科分类：080901[工学-物理电子学] 07[理学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 070302[理学-分析化学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0703[理学-化学] 0803[工学-光学工程] 

基　　金：国家自然科学基金项目(No.12074045 No.62027820) 中国科学院空天信息创新研究院重点布置项目(No.E1Z204020F) 吉林省科技厅自然科学基金项目(No.20210101408JC,No.20230101352JC)资助 

主　　题：光谱学 中红外 腔衰荡光谱技术 气体检测 

摘      要：中红外基频指纹吸收谱具有吸收强、谱线宽且密集的特点。通常吸收红外光谱的气体分子在3000cm^(-1)附近的中红外基频吸收强度比近红外吸收高约2个数量级,因此逐渐成为腔衰荡光谱(CRDS)技术的研究热点。简述了CRDS技术的工作原理及技术优势,介绍了中波红外CRDS技术特点并分析对比了近红外与中红外波段的CRDS技术差异,论述了基于中红外波段的CRDS技术研究现状,最后基于应用研究进展对其前景进行了展望。