集成X射线、TEM和STM的晶体学教学尝试
Integrated Crystallographic Teaching with X-ray,TEM and STM作者机构：北京理工大学分析测试中心北京122488 北京理工大学化学化工学院北京122488
出 版 物：《大学化学》 (University Chemistry)
年 卷 期：2024年第39卷第3期
页 面：5-17页
学科分类：040106[教育学-高等教育学] 0401[教育学-教育学] 04[教育学] 081704[工学-应用化学] 07[理学] 070304[理学-物理化学(含∶化学物理)] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 0703[理学-化学]
摘 要：以Si晶体为例,介绍了一种结合X-射线、电子显微学和扫描隧道显微技术进行晶体学教学的尝试。主要是从基本原理、实验技术、实验结果等方面建立不同方法之间的联系,也说明其区别。目的是使学生能依据基本的晶体学原理、概念和数据,理解不同的晶体结构分析和表征方法提供的晶体学信息之间的区别和联系,达到融会贯通的效果。
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