单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法测定含铁物料中多种微量及痕量有害元素

作     者：杨金坤 苏明跃 李权斌 臧世阳 韩伟丹 

作者机构：天津海关工业产品安全技术中心 天津海关化矿金属材料检测中心 北京安科慧生科技有限公司 

出 版 物：《中国无机分析化学》 (Chinese Journal of Inorganic Analytical Chemistry)

年 卷 期：2024年

学科分类：07[理学] 08[工学] 0806[工学-冶金工程] 070302[理学-分析化学] 080601[工学-冶金物理化学] 0703[理学-化学] 

基　　金：海关总署科研项目(2021HK218) 国家重点研发计划项目(2017YFF0108905) 

主　　题：单波长激发 能量色散 X射线荧光光谱法 含铁物料 有害元素 

摘      要：采用全聚焦型双曲面弯晶结构所实现的单波长激发能量色散X射线荧光光谱法，能有效解决X射线管出射谱中韧致辐射所产生的背景信号，大幅提升元素信噪比，获得较佳的元素特征X射线荧光信号峰背比，降低检出限，可定量分析含铁物料中多种微量及痕量有害元素。称取适量铁矿样品制备成粉末压片，通过对单波长激发性能进行优化，以基本参数法对基体效应进行校正，采用无标样全谱拟合算法对试样进行分析，砷、汞、铅、铬、镉元素的线性相关系数均不小于0.999，其检出限在0.0002%～0.003%，各元素精密度RSD在3.2%～9.0%。用不同方法进行正确度验证，除接近方法检测下限的As及Pb检测结果与对比数据偏差较大之外，其他元素与比对方法的测定结果均吻合。经实验表明，采用双曲面弯晶技术的单波长激发能量色散X射线荧光光谱法定量分析含铁物料中低含量有害元素，正确度高、检出限低，明显优于传统能量色散X射线荧光光谱法。