X射线在影象增强器中背向散射特性的研究
STUDY OF BACKSCATTERING PROPERTIES OF X-RAY IN INTENSIFIERS作者机构：中国科学院西安光学精密机械研究所光电子部西安710068
出 版 物：《光子学报》 (Acta Photonica Sinica)
年 卷 期：1997年第26卷第11期
页 面：987-991页
核心收录：
学科分类：0831[工学-生物医学工程（可授工学、理学、医学学位）] 100207[医学-影像医学与核医学] 1006[医学-中西医结合] 1002[医学-临床医学] 1001[医学-基础医学(可授医学、理学学位)] 08[工学] 1010[医学-医学技术（可授医学、理学学位）] 100106[医学-放射医学] 0702[理学-物理学] 10[医学] 100602[医学-中西医结合临床]
基 金：国家自然科学基金
摘 要：本文用蒙特卡罗方法模拟了轫致辐射X射线在形象增强器中的背向散射特性．针对X线源管电压为30～120kV时的细致辐射入射，给出了背向散射光子的角分布及能谱分布；同时，还给出了背向散射光子的平均能量和平均出射角与管电压的关系以及吸收光子数和直透光子数与管电压的关系．结果表明，背向散射光子以铁的特征辐射光子为主，能量是7.112keV．随着管电压的增加，特征辐射光子数减少，而高能量的背向散射光子逐渐增多．
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