从头算分子动力学研究硫脲嘧啶及其互变异构体在低能电子作用下的解离过程

作     者：张颖 王兴 徐忠锋 任洁茹 张艳宁 周贤明 梁昌慧 张小安 Zhang Ying;Wang Xing;Xu Zhong-Feng;Ren Jie-Ru;Zhang Yan-Ning;Zhou Xian-Ming;Liang Chang-Hui;Zhang Xiao-An

作者机构：咸阳师范学院物理与电子工程学院咸阳712000 西安交通大学物理学院西安710049 中国科学院近代物理研究所兰州730000 

出 版 物：《物理学报》 (Acta Physica Sinica)

年 卷 期：2024年第73卷第2期

页      面：127-136页

核心收录：

学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070303[理学-有机化学] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金(批准号:12205247,12175174) 陕西省教育厅科学研究计划(批准号:22JK0604)资助的课题 

主　　题：玻恩-奥本海默分子动力学 密度泛函理论 电子吸附解离 硫脲嘧啶 

摘      要：运用玻恩-奥本海默分子动力学模型结合密度泛函理论研究了气相下硫脲嘧啶与低能电子吸附解离动力学过程,发现硫脲嘧啶及其互变异构体在吸附解离过程中一个重要的脱氢现象,即特定位置的化学键N—H键,C—H键断裂,使其在N位点和C位点失去氢原子,形成解离过程中最主要的负离子碎片——闭壳层脱氢负离子(TU-H)-为了更深刻地认识脱氢现象,分别对断裂的化学键进行势能曲线扫描,对键解离能、电子亲和能、负离子(TU-H)-出现势进行计算对比发现,在所有断裂的化学键中N—H键最容易发生断裂,而负离子(TU-H)-的形成主要源于N—H键的断裂.