经颅磁刺激诱发脑电图伪迹去除方法的研究进展

作     者：庞紫胭 买文姝 靳静娜 刘志朋 殷涛 Pang Ziyan;Mai Wenshu;Jin Jingna;Liu Zhipeng;Yin Tao

作者机构：中国医学科学院、北京协和医学院生物医学工程研究所天津300192 

出 版 物：《国际生物医学工程杂志》 (International Journal of Biomedical Engineering)

年 卷 期：2023年第46卷第6期

页      面：569-574页

学科分类：1002[医学-临床医学] 10[医学] 

基　　金：国家自然科学基金(52007199) 

主　　题：经颅磁刺激 脑电图 伪迹 

摘      要：经颅磁刺激(TMS)结合脑电图(EEG)是一种非侵入性研究脑皮质兴奋性和连通性的技术,已在基础研究和临床疾病诊疗中得到了应用。然而,由于TMS脉冲输出诱导的生物和非生物性质的伪迹,TMS-EEG的适用性受到了限制。为了解决这个问题,在过去10年中,研究者从在线实验设计和离线数据后处理2个方面开展研究,开发了多种TMS-EEG伪迹去除方法,取得了很多有价值的成果。主要介绍了目前可用的TMS-EEG伪迹去除方法,为促进TMS-EEG在基础研究和临床疾病诊疗中的应用提供帮助。