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一种基于C单元的三节点翻转自恢复锁存器

A triple-node-upset self-recovery latch using C-element

作     者:徐辉 朱烁 孙皓洁 马瑞君 梁华国 黄正峰 XU Hui;ZHU Shuo;SUN Hao-jie;MA Rui-jun;LIANG Hua-guo;HUANG Zheng-feng

作者机构:安徽理工大学计算机科学与工程学院安徽淮南232001 合肥工业大学微电子学院安徽合肥230009 

出 版 物:《计算机工程与科学》 (Computer Engineering & Science)

年 卷 期:2024年第46卷第1期

页      面:37-45页

学科分类:08[工学] 080203[工学-机械设计及理论] 0802[工学-机械工程] 

基  金:国家自然科学基金(61834006,61874156,61404001) 国家重大科研仪器研制项目(62027815) 

主  题:粒子辐射 三节点翻转 锁存器 自恢复 

摘      要:随着集成电路中工艺尺寸的不断缩减,锁存器也越来越容易受到粒子辐射引起的三节点翻转的影响。针对该问题,基于C单元的结构,提出一种低功耗、低延时和高鲁棒性的三节点翻转并自恢复的MKEEP锁存器。通过仿真实验和PVT的波动实验表明,相对于其他拥有三节点容忍或自恢复能力的锁存器,该锁存器拥有低功耗、低延迟和更小的面积开销,且对工艺、电压和温度的敏感度较低,优势明显。

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