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LC型VCO高温特性分析

Analysis of High Temperature Characteristics of LC VCO

作     者:刘长江 刘银生 高晓强 LIU Changjiang;LIU Yinsheng;GAO Xiaoqiang

作者机构:中国电子科技集团公司第二十九研究所成都610036 中国电子科技集团公司第十三研究所石家庄050051 

出 版 物:《电子工艺技术》 (Electronics Process Technology)

年 卷 期:2024年第45卷第1期

页      面:10-13页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

主  题:MMIC 压控振荡器 高温特性改变 

摘      要:微波单片集成电路(MMIC)具有噪声性能好、集成度高、驱动能力强的优点。在MMIC工艺下,对压控振荡器(VCO)在高温下的特性表现进行了分析。现有使用负阻振荡原理设计的VCO电路分为负阻电路部分和谐振电路部分,该结构在高温下常产生近端噪声恶化和频率下降的现象,影响VCO的正常工作性能。通过对现有MMICVCO产品的仿真测试和分析,探得了高温下VCO性能改变的原因。

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