锯齿形氮化铝纳米带负阻器件电子输运性质研究

作     者：黄绛雪 黄启俊 何进 王豪 常胜 

作者机构：武汉大学物理科学与技术学院 

出 版 物：《原子与分子物理学报》 (Journal of Atomic and Molecular Physics)

年 卷 期：2025年第2期

页      面：91-96页

学科分类：07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金(62074116,61874079,81971702) 珞珈青年学者计划 

主　　题：锯齿形氮化铝纳米带 电子输运 负微分电阻效应 第一性原理 

摘      要：低维纳米带材料因为其结构的特异性而呈现出新奇的物理性质.修饰纳米带的边缘能够调制其电子性质.本文运用基于密度泛函理论(DFT)的第一性原理计算方法，探究了锯齿形氮化铝纳米带(ZAlNNR)单边氟化、单边氯化以及单边氢化的电子结构和输运特性.研究表明：锯齿型氮化铝纳米带可以通过以上手段实现能带结构的半导体-金属转换.计算电子输运特性，我们发现三种边缘修饰的器件均呈现出负微分电阻效应，其中AlN-F器件有最大峰谷电流比(PVCR),达到了1.78×107,是硅烯纳米器件以及黑磷纳米器件的106倍.值得一提的是，相比于H-AlN-Cove纳米器件，AlN-F器件能够在更小的偏压范围内实现高PVCR.该结果为锯齿形氮化铝纳米带在低功耗纳米器件中的应用提供了广泛的前景.