基于ISAR成像和散射中心提取的目标RCS近场测量方法
作者机构:西安电子科技大学天线与微波技术重点实验室 西安电子科技大学陕西省超大规模电磁计算重点实验室
出 版 物:《微波学报》 (Journal of Microwaves)
年 卷 期:2024年
学科分类:080904[工学-电磁场与微波技术] 0810[工学-信息与通信工程] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 081105[工学-导航、制导与控制] 081001[工学-通信与信息系统] 081002[工学-信号与信息处理] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0811[工学-控制科学与工程]
基 金:陕西省重点研发计划项目(2021GXLH-02) 西安电子科技大学杭州研究院概念验证基金项目(GNYZ2023XJ0407) 中央高校基本科研业务费专项资金资助(QTZX22160、XJSJ23013)
主 题:雷达散射截面积(RCS) 二维ISAR成像 近场测量 探头补偿 CLEAN算法
摘 要:本文通过结合逆合成孔径雷达(Inverse Synthetic Aperture Radar, ISAR)成像和散射中心提取技术,实现了近场测试距离下目标雷达散射截面积(Radar Cross Section, RCS)的有效测量。利用近场球面波修正技术和探头补偿技术降低了近场球面波效应和收发探头对成像质量的影响。对目标ISAR图像采用散射中心提取技术,消除了目标ISAR图像中由于有限带宽所导致的旁瓣效应。针对散射中心提取中截断阈值的选取准则进行了深入研究,给出了截断阈值判定的经验公式并结合仿真实验进行了验证。最终利用标准球锥散射体的暗室近场测量数据对本文所研究方法进行了实测验证,并与多层快速多极子方法仿真结果吻合良好,验证了本文方法的有效性。