融合误跳车的安全仪表系统测试周期优化流程
Optimization process of proof test cycle of safety instrumented system integrating spurious trip作者机构:中国石油大学(华东)机电工程学院山东青岛266580 中国中化蓝星公司北京100029
出 版 物:《中国石油大学学报(自然科学版)》 (Journal of China University of Petroleum(Edition of Natural Science))
年 卷 期:2023年第47卷第6期
页 面:130-137页
核心收录:
学科分类:08[工学] 0837[工学-安全科学与工程] 0804[工学-仪器科学与技术] 0714[理学-统计学(可授理学、经济学学位)] 0701[理学-数学]
基 金:国家重点研发计划项目(2019YFB2006305)。
主 题:安全仪表系统 验证测试周期 误跳车 可靠度 贝叶斯估计
摘 要:安全仪表系统(SIS)的验证测试周期对油气生产安全具有重大影响,目前IEC标准推荐的方法仅限于考虑平均需求失效概率的需要,且采用的名义失效率与现场实际不一致。为此提出一种基于贝叶斯估计的融合误跳车影响的测试周期优化流程(PTIST),可以综合考虑SIS运行阶段的误动作和拒动作损失,并通过获取更精确的SIS失效率,实现SIS具体失效数据和数据库信息的结合。将PTIST应用于某加氢裂化装置的液位联锁控制回路中,结果表明:相较于IEC标准,PTIST中的前两个测试周期均缩短,测试周期内的总损失成本平均降低了17.57%,单位损失率平均降低了10.25%,且能有效地利用SIS误跳车信息;PTIST不仅提高了测试周期内SIS的可靠度,而且能大幅降低SIS运行损失成本。