高密度电阻率法在复杂岩溶地区的应用研究

作     者：李玉 陈宗清 柳倩男 许文学 江巍 Li Yu;Chen Zongqing;Liu Qiannan;Xu Wenxue;Jiang Wei

作者机构：中国人民解放军93204部队北京100077 

出 版 物：《工程勘察》 (Geotechnical Investigation & Surveying)

年 卷 期：2024年第52卷第1期

页      面：72-78页

学科分类：081801[工学-矿产普查与勘探] 081802[工学-地球探测与信息技术] 08[工学] 0818[工学-地质资源与地质工程] 

主　　题：岩溶 高密度电阻率法 反射系数K剖面法 斯伦贝谢装置 

摘      要：岩溶地区多存在塌陷安全隐患,严重影响工程建设及使用安全,因此准确探测岩溶的形态特征及填充性质在工程勘察中尤为重要。近年来,高密度电阻率法因其适应性强、采集效率高和显示直观的特点,已经成为岩溶探测的有效手段。本文引入反射系数K剖面法,通过分析其原理及发展,对比了与传统软件RES2DINV的处理效果。并以西南地区某机场工程为例,采用高密度电阻率法中不同装置类型、不同电极距对地下岩溶发育情况进行探测,通过对比分析得到适合该场区的探测方法和参数,同时结合钻孔资料进行综合解释,弥补由点到面的不足。通过本文的实践和验证,高密度电阻率法在复杂地形条件下探测岩溶发育有很好的反映,且斯伦贝谢装置的识别效果比温纳装置更佳,反射系数K剖面法处理后的剖面对岩溶形态特征刻画得更为清晰,为工程的后期勘察和资料处理以及防治措施提供了技术支撑,对于岩溶地区的地质勘察具有良好的应用和参考价值。