经颅电刺激用于深脑刺激的研究进展

作     者：孟纬钰 张丞 吴昌哲 张广浩(综述) 霍小林(审校) MENG Weiyu;ZHANG Cheng;WU Changzhe;ZHANG Guanghao;HUO Xiaolin

作者机构：中国科学院电工研究所生物电磁学北京重点实验室北京100190 中国科学院大学电子电气与通信工程学院北京100149 

出 版 物：《生物医学工程学杂志》 (Journal of Biomedical Engineering)

年 卷 期：2023年第40卷第5期

页      面：1005-1011页

核心收录：

学科分类：1002[医学-临床医学] 100204[医学-神经病学] 10[医学] 

基　　金：国家自然科学基金(51977205 52077209) 

主　　题：经颅电刺激 强电流经颅交流电刺激 高精度电刺激 时间干涉刺激 交叉短脉冲刺激 

摘      要：经颅电刺激(TES)是一种无创、经济、耐受性好的神经调控技术。但是,传统TES为全脑性刺激,且刺激电流较小,无法满足临床治疗中对深部脑区的有效聚焦刺激的需求。随着TES技术临床应用的不断深入,研究人员不断探索出新的刺激方法来提高刺激聚焦性、刺激强度和刺激深度,尤其是以高精度经颅电刺激、时间干涉刺激为代表的多电极刺激研究已展开。本文回顾了近年来TES的优化方案,并进一步分析了现有刺激方法的特点和局限,以期为相关临床应用提供借鉴和参考,并为后续研究提供指导。此外,本文还对TES未来发展趋势进行了展望,并提出了可能用于深脑刺激的TES优化方向,以期能为后续研究和应用提供新的思路。