一种平面标靶的校正方法

作     者：刘晓利 殷永凯 何懂 彭翔 LIU Xiao-li;YIN Yong-kai;HE Dong;PENG Xiang

作者机构：深圳大学光电子器件与系统(教育部、广东省)重点实验室广东深圳518060 天津大学精密仪器与光电子工程学院 精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072 

出 版 物：《光电工程》 (Opto-Electronic Engineering)

年 卷 期：2011年第38卷第4期

页      面：7-11页

核心收录：

学科分类：080202[工学-机械电子工程] 08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0802[工学-机械工程] 

基　　金：国家自然科学基金(60775021,61003178) 深圳大学科技计划(000018) 精密测试技术及仪器国家重点实验室(天津大学)-光电子器件与系统教育部重点实验室(深圳大学)联合开放课题资助项目 

主　　题：平面标靶 光束平差 标定 

摘      要：提出一种新的标靶校正方法。首先,用一台数码相机从不同角度拍摄标靶,获取多幅图像。分别提取各图像中标志点的中心作为特征点,根据标靶图案的拓扑关系,建立各幅图像间同名标志点的对应关系,并结合光束平差计算特征点的三维坐标,该特征点的三维坐标由尺度因子所约束。最后,根据任意两个特征点的实际距离来获取尺度因子,并将各特征点的三维坐标缩放至实际尺寸。经实验验证,本方法校正的标靶具有较高的精度,操作简易,成本低,可广泛适用于视觉测量及系统标定。