X射线荧光光谱法测定工业氧化铝中的微量元素

作     者：杨朝芳 Yang Chaofang

作者机构：阳泉市综合检验检测中心山西阳泉045000 

出 版 物：《山西冶金》 (Shanxi Metallurgy)

年 卷 期：2023年第46卷第6期

页      面：30-32,35页

学科分类：08[工学] 0806[工学-冶金工程] 080601[工学-冶金物理化学] 

主　　题：工业氧化铝 熔融玻璃片法 X射线光谱分析 基体校正 

摘      要：采用工业氧化铝系列标准样品,加Li_(2)B_(4)O_(7)-LiBO_(2)混合熔剂熔铸成玻璃样片,建立测定氧化铝微量元素(Ga_(2)O_(3)、ZnO、CaO、SiO_(2)、Fe_(2)O_(3)、TiO_(2)、K_(2)O和Na_(2)O)的X射线荧光光谱分析曲线。通过谱线校正消除谱线干扰,按照经验α系数法进行基体校正,消除样品中各元素的吸收增强效应,校准曲线精密度品质因子低于0.07。使用建立的分析曲线对样品各微量组分进行检测,结果表明:各组分检测值相对标准偏差介于0.53%~9.09%之间,检测结果误差在GB/T 6609.30—2009标准要求的允许范围内。该检验方法的检验结果达到了精密度和准确度要求,为指导工业生产以及实验室质量控制奠定了基础。