非接触式原子力显微镜在分子几何结构解析中的应用进展
The Progress in Application of Non-Contact Atomic Force Microscopy to Molecular Geometric Structure Analysis作者机构：苏州大学分析测试中心苏州215123 苏州大学功能纳米与软物质研究院苏州215123
出 版 物：《化学通报》 (Chemistry)
年 卷 期：2023年第86卷第7期
页 面：769-774页
学科分类：081702[工学-化学工艺] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 0803[工学-光学工程]
主 题：非接触式原子力显微术 qPlus传感器 化学键分辨图 表面在位反应
摘 要：具有化学键分辨的非接触式原子力显微(nc-AFM)表征展现出了优异的分子结构解析能力,是近十年来显微表征领域里的代表性进展,成为表面分子相关研究的重要工具。本文首先介绍了化学键分辨的非接触式原子力显微镜的核心部件:qPlus传感器,以及实现化学键分辨所必须的针尖修饰技术;围绕该表征方法在分子几何结构成像上的功能,重点介绍了nc-AFM在天然产物结构确定以及表面在位反应研究上的最新进展。
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