成败型产品可靠性的Bayes评估
BAYESIAN ASSESSMENT FOR PRODUCT RELIABILITY USING PASS-FAIL DATA作者机构：国防科技大学机电工程与自动化学院湖南长沙410073
出 版 物：《兵工学报》 (Acta Armamentarii)
年 卷 期：2001年第22卷第2期
页 面：238-240页
核心收录：
学科分类：07[理学] 070104[理学-应用数学] 0701[理学-数学]
摘 要：本文讨论了成败型产品可靠性的 Bayes评估问题。通过引入继承因子 ,合理地考虑了产品在设计和改进过程中的各种信息 ,进而把继承因子看作随机变量 ,得到了产品可靠性的验后密度函数。仿真结果表明 ,在小子样前提下 ,经典统计方法得到的可靠性置信下限过于保守 ;传统 Bayes方法虽考虑了相关或相似产品的试验信息 ,但却忽略了它们之间的差异 ;而文中的方法不仅考虑了相关产品的试验信息 ,同时还考虑了产品之间的差异 ,评估结论是合理的。
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