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电子式互感器采集单元的芯片级抗扰试验及防护技术

Chip Level Immunity Test for Electronic Transformer Acquisition Unit and Its Protection Technology

作     者:赵明敏 杨志超 李谦 林珊珊 赵鹏 鞠勇 ZHAO Mingmin;YANG Zhichao;LI Qian;LIN Shanshan;ZHAO Peng;JU Yong

作者机构:中国电力科学研究院有限公司北京100192 新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学)北京102206 

出 版 物:《南方电网技术》 (Southern Power System Technology)

年 卷 期:2023年第17卷第3期

页      面:107-114页

核心收录:

学科分类:080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 

基  金:中国电力科学研究院科技项目“智能设备ADC芯片电磁环境下失效机理和防护方法研究”(GY83-20-009) 国家重点研发计划“国家质量基础的共性技术研究与应用专项”(2020YFF0218401) 

主  题:电子式互感器 电磁兼容 静电放电 浪涌 抗扰度测试 电磁防护 

摘      要:实测了二次设备面临的空间电磁场和暂态地电位提升水平。选取电子式互感器采集单元板卡常用的AD7656、AD7606和AD9288这3种型号模数(A/D)转换芯片,研制了可供这些芯片抗扰度测试用的模拟板卡。开展了静电放电和浪涌抗扰度测试,并判断了器件损伤的严重程度,总结了不同芯片的失效特征。在电路板上逐层添加到电磁兼容(electromagnetic compatibility,EMC)防护措施,测试获得了不同防护层级对各种类型干扰的抑制作用。

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