保偏光纤制备及其参数测试原理

作     者：张雪莲 杨鹏 刘永建 宁鼎 

作者机构：中国电子科技集团公司第四十六研究所 

出 版 物：《激光技术》 (Laser Technology)

年 卷 期：2023年

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 0702[理学-物理学] 

主　　题：光纤光学 保偏光纤 化学气相沉积 折射近场 远场扫描法 视频灰度技术 

摘      要：为了研制工作波长为1310nm的保偏光纤，采用了改进的化学气相沉积MCVD工艺制备保偏光纤预制捧和应力棒，经加工、拼接、清洗、拉丝工艺后，得到几何尺寸精确的高质量保偏光纤。同时搭建了高效测试系统，采用了折射近场法、远场扫描法、视频灰度技术（传输近场），分别测量了预制棒的折射率分布和几何尺寸，保偏光纤模场直径、数值孔径、几何尺寸等关键参数。经理论分析和实测验证，此标准化测试系统操作流程简单，结果精确，测试得到模场直径MFD为6.26μm，数值孔径NA为0.23，包涂直径80/135/165μm（精度±0.7μm）。终检测试合格的光纤成品随机抽样16.25%进行高低温老化，实验后拍长、串音变化小。结果证明，研制的保偏光纤性能稳定，几何尺寸精确，结构均匀，损耗低，具有优良保偏性能，已广泛应用于实际生产中。