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基于关断延迟时间的大功率IGBT模块结温提取方法研究

Junction Temperature Extraction of High Power IGBT Module Based on Turn-off Delay Time

作     者:孙鹏飞 罗皓泽 董玉斐 李武华 何湘宁 SUN Pengfei;LUO Haoze;DONG Yufei;LI Wuhua;HE Xiangning

作者机构:浙江大学电气工程学院浙江省杭州市310027 

出 版 物:《中国电机工程学报》 (Proceedings of the CSEE)

年 卷 期:2015年第35卷第13期

页      面:3366-3372页

核心收录:

学科分类:080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

基  金:国家重点基础研究发展计划项目(973项目)(2014CB247400) 国家自然科学基金项目(51361130150 51277195)~~ 

主  题:可靠性 结温检测 热敏电参数 关断延迟时间 

摘      要:大功率绝缘栅极双极型晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)模块在风力发电、电力机车牵引和高压直流输电等众多领域得到了广泛的应用。在以上高安全性的应用领域,IGBT模块的可靠性成为电力电子学科的研究热点之一。已有研究成果表明,IGBT的可靠性与其结温变化有密切的联系。该文基于可靠性研究的需要,提出一种基于关断延迟时间的结温提取方法。该方法利用模块自身存在的寄生电感获取关断延迟时间信息,最后对关断延迟时间的温度特性进行分析,并通过大功率IGBT离线测试系统进行了实验验证,结果证明通过模块寄生电感在关断过程中的变化检测关断延迟时间进行结温提取的方法有效可行。

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