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一种实用的高精度ADC测试方法

A practical method to test high-resolution ADC

作     者:柯新花 卢宋林 许瑞年 许升辉 李瑞 沈天健 KE Xinhua;LU Songlin;XU Ruinian;XU Shenghui;LI Rui;SHEN Tianjian

作者机构:中国科学院上海应用物理研究所 

出 版 物:《核技术》 (Nuclear Techniques)

年 卷 期:2008年第31卷第5期

页      面:374-378页

核心收录:

学科分类:080802[工学-电力系统及其自动化] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 082701[工学-核能科学与工程] 0827[工学-核科学与技术] 

主  题:高精度ADC 数字信号处理器 有效位数 积分线性度 

摘      要:模数转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)是模拟数字混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着ADC速度和精度的提高,如何高效、准确地测试其动态和静态参数是ADC测试研究的重点。本文阐述在缺少现成的标准输入信号源情况下进行高精度ADC线性度和分辨率的测试,实现低成本、高可靠性的高精度ADC计算机辅助测试的方法。该方法在几类AD转换卡(数据采集卡)上进行了验证。

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