深亚微米全差分采样/保持电路设计
Design of a deep sub-micron full differential sample/hold circuit作者机构：北京工业大学集成电路与系统实验室北京100022
出 版 物：《仪器仪表学报》 (Chinese Journal of Scientific Instrument)
年 卷 期：2006年第27卷第z1期
页 面：145-147页
核心收录：
学科分类：08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 081102[工学-检测技术与自动化装置] 0811[工学-控制科学与工程]
摘 要：本文介绍采用深亚微米CMOS工艺设计的全差分采样/保持电路,该电路应用下极板采样技术和全差分结构以消除开关电荷注入和时钟馈通引起的误差,从而获得高精度。设计采用0.18μm CMOS工艺条件并通过spectre软件模拟仿真,结果表明电路在3 V电源电压和50MHz采样频率工作条件下能够稳定工作。
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