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运用t检验评估3DES算法的侧信道信息泄露

Evaluating side-channel information leakage in 3DES using the t-test

作     者:陈佳哲 李贺鑫 王亚楠 王宇航 CHEN Jiazhe;LI Hexin;WANG Yanan;WANG Yuhang

作者机构:中国信息安全测评中心北京100085 

出 版 物:《清华大学学报(自然科学版)》 (Journal of Tsinghua University(Science and Technology))

年 卷 期:2016年第56卷第5期

页      面:499-503页

核心收录:

学科分类:11[军事学] 1105[军事学-军队指挥学] 0839[工学-网络空间安全] 08[工学] 110505[军事学-密码学] 110503[军事学-军事通信学] 

基  金:国家自然科学基金资助项目(61402536 61202493 61402252) 

主  题:Welch t检验 3DES算法 侧信道 信息泄露评估 

摘      要:t检验是统计学中用来检验2个未知方差正态总体均值关系的假设检验方法。当总体的方差不相等,且样本量也不相等时,Welch t检验是一种比Students t检验更可靠的方法。该文将借鉴采用t检验对AES的实现进行侧信道信息泄露评估的方法,用Welch t检验来对3DES算法运行过程中的侧信道信息泄露进行评估,以衡量其是否可能受到一阶DPA攻击。该文构造了适合于3DES算法的Welch t检验方法,并对实现方法不同的3个运行3DES算法的设备进行了实验。实验结果表明该文的方法是有效的。

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