CAF失效分析方法探讨
The CAF Failure Analysis Method作者机构：麦可罗泰克(常州)产品服务有限公司
出 版 物：《印制电路信息》 (Printed Circuit Information)
年 卷 期：2009年第17卷第S1期
页 面：505-507页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
主 题：CAF导电阳极丝 垂直切片 水平切片 SEM EDS
摘 要：电子产品的高密度、小型化使得由印制线路板产生的CAF现象成为影响产品可靠性的一个重要因素。本文介绍了利用实验室手段寻找CAF失效点的方法,找出失效原因,以帮助PCB生产商改进工艺,提高产品可靠性。
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