寄存器软错误对程序可靠性影响的静态分析

作     者：徐建军 谭庆平 XU Jian-jun;TAN Qing-ping

作者机构：国防科学技术大学计算机学院长沙410073 

出 版 物：《计算机科学》 (Computer Science)

年 卷 期：2011年第38卷第1期

页      面：290-294,F0003页

核心收录：

学科分类：08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

主　　题：软错误 寄存器 程序可靠性 程序分析 

摘      要：继性能和功耗问题之后,软错误导致的计算可信性已成为一个日益严峻的课题。其中,由于寄存器访问频繁却未能被良好保护,发生在其中的软错误成为影响程序可靠性的关键因素之一。基于程序汇编代码,提出一种针对寄存器软错误的程序可靠性静态分析方法。首先通过数据流分析技术提取所有可能影响程序执行的寄存器活跃区间,然后基于活跃区间的路径表达式分析其执行时间和出现频率,最后在此基础上计算在寄存器软错误影响下的程序可靠性。实验表明,该方法的分析结果与AVF分析法保持一致,同时其结果还指出相关的寄存器活跃区间的执行时间和出现频率,这为实现针对寄存器软错误的高效容错方法提供了依据。